盖世汽车讯 据外媒报道，莱斯大学的材料科学家开发出一种新的工作流程，用于测量金刚石及其他先进半导体材料中的微观缺陷。该方法能更轻松地发现那些会削弱性能的缺陷，从而有望加速更可靠的电子和量子器件的研发进程。
研究团队开发了一款基于Python的定制软件工具，用于快速分析高分辨率X射线衍射数据——这是一种利用X射线探测材料内部晶体结构的技术。该软件能够分析生成的衍射图样，识别原子晶格中的位错与不规则结构，并计算出这些缺陷在特定材料中的密度。
“位错会干扰电荷和热量在材料中的传输，进而影响器件的效率、可靠性以及大规模制造的难易程度，”莱斯大学材料科学与纳米工程系助理研究教授、发表于期刊《先进材料》的这项研究的通讯作者Xiang Zhang表示。
这一新框架特别适用于测量金刚石及其他宽禁带半导体中的位错密度。与硅相比，这类材料能够承受更高的热负荷与电应力，因此在电动汽车动力系统、电网基础设施、先进通信设备及量子技术等应用领域极具吸引力。
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